An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals: bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays. | J Synchrotron Radiat;20(Pt 2): 266-71, 2013 Mar. | MEDLINE

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An X-ray Raman spectrometer for EXAFS studies on minerals: bent Laue spectrometer with 20 keV X-rays.

Hiraoka, N; Fukui, H; Tanida, H; Toyokawa, H; Cai, Y Q; Tsuei, K D.

Afiliación

Hiraoka N; National Synchrotron Radiation Research Center, Hsinchu, Taiwan.

J Synchrotron Radiat ; 20(Pt 2): 266-71, 2013 Mar.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23412483

Palabras clave

EXAFS; X-ray Raman scattering; bent Laue analyzer; inelastic X-ray scattering

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: J Synchrotron Radiat Asunto de la revista: RADIOLOGIA Año: 2013 Tipo del documento: Article País de afiliación: Taiwán

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