Statistical characteristics of reset switching in Cu/HfO2/Pt resistive switching memory.
Nanoscale Res Lett
; 9(1): 2500, 2014 Dec.
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| ID: mdl-26089007
Texto completo:
1
Bases de datos:
MEDLINE
Tipo de estudio:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Nanoscale Res Lett
Año:
2014
Tipo del documento:
Article