The role of relative rate constants in determining surface state phenomena at semiconductor-liquid interfaces.

Iqbal, Asif; Hossain, Md Sazzad; Bevan, Kirk H

Iqbal, Asif; Hossain, Md Sazzad; Bevan, Kirk H.

Afiliación

Iqbal A; Materials Engineering, McGill University, Montréal, Québec, Canada. asif.iqbal@mail.mcgill.ca kirk.bevan@mcgill.ca.
Hossain MS; Materials Engineering, McGill University, Montréal, Québec, Canada. asif.iqbal@mail.mcgill.ca kirk.bevan@mcgill.ca.
Bevan KH; Materials Engineering, McGill University, Montréal, Québec, Canada. asif.iqbal@mail.mcgill.ca kirk.bevan@mcgill.ca.

Phys Chem Chem Phys ; 18(42): 29466-29477, 2016 Oct 26.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27738683

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Bases de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Chem Chem Phys Asunto de la revista: BIOFISICA / QUIMICA Año: 2016 Tipo del documento: Article

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