Consequences of the CMR effect on EELS in TEM.

Wallisch, Wolfgang; Stöger-Pollach, Michael; Navickas, Edvinas.

Afiliación

Wallisch W; University Service Centre for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitát Wien, Wiedner Hauptstraße 8-10, A-1040 Wien, Austria. Electronic address: wolfgang.wallisch@tuwien.ac.at.
Stöger-Pollach M; University Service Centre for Transmission Electron Microscopy, Technische Universitát Wien, Wiedner Hauptstraße 8-10, A-1040 Wien, Austria.
Navickas E; Institute of Chemical Technologies and Analytics, Technische Universität Wien, Getreidemarkt 9, A-1040 Wien, Austria.

Ultramicroscopy ; 179: 84-89, 2017 08.

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