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Scaling behavior of oxide-based electrothermal threshold switching devices.
Li, Dasheng; Goodwill, Jonathan M; Bain, James A; Skowronski, Marek.
Afiliación
  • Li D; Carnegie Mellon University, Dept. of Materials Science and Engineering, Pittsburgh, PA, USA. mareks@andrew.cmu.edu.
Nanoscale ; 9(37): 14139-14148, 2017 Sep 28.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-28905051
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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Nanoscale Año: 2017 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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