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High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: new levels of sensitivity.
Wilkinson, Angus J; Meaden, Graham; Dingley, David J.
Afiliação
  • Wilkinson AJ; Department of Materials, University of Oxford, Parks Road, Oxford OX1 3PH, UK. angus.wilkinson@materials.ox.ac.uk
Ultramicroscopy ; 106(4-5): 307-13, 2006 Mar.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16324788
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Bases de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article País de afiliação: Reino Unido
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