Uncertainty evaluation for the spectroradiometric measurement of the averaged light-emitting diode intensity. | Appl Opt;46(15): 2851-8, 2007 May 20. | MEDLINE

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Uncertainty evaluation for the spectroradiometric measurement of the averaged light-emitting diode intensity.

Park, Seongchong; Lee, Dong-Hoon; Kim, Yong-Wan; Park, Seung-Nam.

Afiliação

Park S; Division of Physical Metrology, Korea Research Institute of Standards and Science, Doryong-dong 1, Yuseong-gu, Daejeon, South Korea. spark@kriss.re.kr

Appl Opt ; 46(15): 2851-8, 2007 May 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17514229

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Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article País de afiliação: Coréia do Sul

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