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Li, Min; Li, Xin-Yang; Jiang, Wen-Han.

Afiliação

Li M; Institute of Optics and Electronics, Chinese Academy of Sciences, P.O. Box 350, Chengdu, Sichuan 610209, China.

Opt Express ; 16(11): 8190-7, 2008 May 26.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18545530

Assuntos

Desenho Assistido por Computador; Modelos Teóricos; Refratometria/instrumentação; Refratometria/métodos; Simulação por Computador; Desenho de Equipamento; Análise de Falha de Equipamento

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Bases de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Desenho Assistido por Computador / Modelos Teóricos Idioma: En Revista: Opt Express Assunto da revista: OFTALMOLOGIA Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article País de afiliação: China

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