Topography and work function measurements of thin MgO(001) films on Ag(001) by nc-AFM and KPFM. | Phys Chem Chem Phys;12(13): 3203-9, 2010 Apr 07. | MEDLINE

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Topography and work function measurements of thin MgO(001) films on Ag(001) by nc-AFM and KPFM.

Bieletzki, M; Hynninen, T; Soini, T M; Pivetta, M; Henry, C R; Foster, A S; Esch, F; Barth, C; Heiz, U.

Afiliação

Bieletzki M; Lehrstuhl für Physikalische Chemie, Technische Universität München, Department Chemie, Lichtenbergstr. 4, D-85748 Garching, Germany.

Phys Chem Chem Phys ; 12(13): 3203-9, 2010 Apr 07.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20237710

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Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Chem Chem Phys Assunto da revista: BIOFISICA / QUIMICA Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article País de afiliação: Alemanha

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