Ion-induced nanopatterns on semiconductor surfaces investigated by grazing incidence x-ray scattering techniques.
J Phys Condens Matter
; 21(22): 224007, 2009 Jun 03.
Article
em En
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| ID: mdl-21715746
Texto completo:
1
Bases de dados:
MEDLINE
Tipo de estudo:
Incidence_studies
/
Risk_factors_studies
Idioma:
En
Revista:
J Phys Condens Matter
Assunto da revista:
BIOFISICA
Ano de publicação:
2009
Tipo de documento:
Article
País de afiliação:
França