Microstructure and crystallization kinetics analysis of the (In15Sb85)(100-x)Zn(x) phase change recording thin films. | J Nanosci Nanotechnol;11(12): 10922-5, 2011 Dec. | MEDLINE

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Microstructure and crystallization kinetics analysis of the (In15Sb85)(100-x)Zn(x) phase change recording thin films.

Ou, S L; Kuo, P C; Sheu, S C; Shen, C L; Tsai, T L; Chen, S C; Chiang, D Y.

Afiliação

Ou SL; Institute of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, No. 1, Sec. 4, Roosevelt Road, Taipei 10617, Taiwan.

J Nanosci Nanotechnol ; 11(12): 10922-5, 2011 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22409026

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Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article País de afiliação: Taiwan

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