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Scanning transmission electron microscopy: Albert Crewe's vision and beyond.
Krivanek, Ondrej L; Chisholm, Matthew F; Murfitt, Matthew F; Dellby, Niklas.
Afiliação
  • Krivanek OL; Nion Company, 1102 8th Street, Kirkland, WA 98033, USA. krivanek@nion.com
Ultramicroscopy ; 123: 90-8, 2012 Dec.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-22742821

Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Transmissão e Varredura Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Assunto principal: Microscopia Eletrônica de Transmissão e Varredura Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos