Thickness-dependent interfacial Coulomb scattering in atomically thin field-effect transistors.
Nano Lett
; 13(8): 3546-52, 2013 Aug 14.
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em En
| MEDLINE
| ID: mdl-23862641
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1
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Nano Lett
Ano de publicação:
2013
Tipo de documento:
Article
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Japão