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Graphene for true Ohmic contact at metal-semiconductor junctions.
Byun, Kyung-Eun; Chung, Hyun-Jong; Lee, Jaeho; Yang, Heejun; Song, Hyun Jae; Heo, Jinseong; Seo, David H; Park, Seongjun; Hwang, Sung Woo; Yoo, InKyeong; Kim, Kinam.
Afiliação
  • Byun KE; Samsung Advanced Institute of Technology, Samsung Electronics Co. , Yongin-si 446-712, Korea.
Nano Lett ; 13(9): 4001-5, 2013 Sep 11.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23978262
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Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article
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