Observation of the inverse giant piezoresistance effect in silicon nanomembranes probed by ultrafast terahertz spectroscopy.

Jang, Houk; Kim, Jaeseok; Kim, Min-Seok; Cho, Jeong Ho; Choi, Hyunyong; Ahn, Jong-Hyun.

Afiliação

Jang H; School of Electrical and Electronic Engineering, Yonsei University , Seoul, 120-749, Republic of Korea.

Nano Lett ; 14(12): 6942-8, 2014 Dec 10.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25375958

Palavras-chave

Inverse piezoresistance effect; defect trapping; ultrafast terahertz spectroscopy; ultrathin silicon nanomembrane

Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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