High quality reduced graphene oxide flakes by fast kinetically controlled and clean indirect UV-induced radical reduction.

Flyunt, Roman; Knolle, Wolfgang; Kahnt, Axel; Halbig, Christian E; Lotnyk, Andriy; Häupl, Tilmann; Prager, Andrea; Eigler, Siegfried; Abel, Bernd

Flyunt, Roman; Knolle, Wolfgang; Kahnt, Axel; Halbig, Christian E; Lotnyk, Andriy; Häupl, Tilmann; Prager, Andrea; Eigler, Siegfried; Abel, Bernd.

Afiliação

Flyunt R; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.
Knolle W; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.
Kahnt A; Department of Chemistry and Pharmacy & Interdisciplinary Center for Molecular Materials (ICMM), Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 91058 Erlangen, Germany.
Halbig CE; Department of Chemistry and Pharmacy & Central Institute for New Materials and Processing Technology, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 90762 Fürth, Germany.
Lotnyk A; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.
Häupl T; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.
Prager A; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.
Eigler S; Department of Chemistry and Pharmacy & Central Institute for New Materials and Processing Technology, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 90762 Fürth, Germany and Department of Chemistry and Chemical Engineering, Chalmers University of Technology, 41258 Göteborg, Sweden.
Abel B; Leibniz-Institut für Oberflächenmodifizierung (IOM), Permoserstr. 15, D-04303 Leipzig, Germany. roman.flyunt@iom-leipzig.de bernd.abel@iom-leipzig.de.

Nanoscale ; 8(14): 7572-9, 2016 Apr 14.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-26984451

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Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article