Investigation on strain relaxation distribution in GaN-based µLEDs by Kelvin probe force microscopy and micro-photoluminescence.
Opt Express
; 26(5): 5265-5274, 2018 Mar 05.
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em En
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Idioma:
En
Revista:
Opt Express
Assunto da revista:
OFTALMOLOGIA
Ano de publicação:
2018
Tipo de documento:
Article