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On-chip complex refractive index detection at multiple wavelengths for selective sensing.
El Shamy, Raghi S; Swillam, Mohamed A; Li, Xun.
Afiliação
  • El Shamy RS; Faculty of Engineering, Department of Electrical and Computer Engineering, McMaster University, Hamilton, ON, L8S 4L8, Canada.
  • Swillam MA; Department of Physics, School of Science and Engineering, The American University in Cairo, New Cairo, 11835, Egypt.
  • Li X; Faculty of Engineering, Department of Electrical and Computer Engineering, McMaster University, Hamilton, ON, L8S 4L8, Canada. lixun@mcmaster.ca.
Sci Rep ; 12(1): 9343, 2022 06 04.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-35660767
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Texto completo: 1 Bases de dados: MEDLINE Assunto principal: Refratometria / Silício Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Sci Rep Ano de publicação: 2022 Tipo de documento: Article País de afiliação: Canadá
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