Roughening rates of strained-layer instabilities.

Watanabe, Fumiya; Cahill, David G; Greene, J E.

Afiliação

Watanabe F; Department of Materials Science and Engineering and the Frederick Seitz Materials Research Laboratory, University of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, Illinois, 61801, USA.

Phys Rev Lett ; 94(6): 066101, 2005 Feb 18.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-15783751

We study the evolution of the morphology of Si0.75Ge0.25 strained layers using a wide range of deposition times, 60

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Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2005 Tipo de documento: Article

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