Measuring molecular order in poly(3-alkylthiophene) thin films with polarizing spectroscopies.

Gurau, Marc C; Delongchamp, Dean M; Vogel, Brandon M; Lin, Eric K; Fischer, Daniel A; Sambasivan, Sharadha; Richter, Lee J

Gurau, Marc C; Delongchamp, Dean M; Vogel, Brandon M; Lin, Eric K; Fischer, Daniel A; Sambasivan, Sharadha; Richter, Lee J.

Afiliação

Gurau MC; Surface and Microanalysis Science Division, Chemical Science and Technology Laboratory, National Institute of Standards and Technology, 100 Bureau Drive, Mail Stop 8372, Gaithersburg, Maryland 20899, USA.

Langmuir ; 23(2): 834-42, 2007 Jan 16.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-17209641

Assuntos

Polímeros/química; Tiofenos/química; Algoritmos; Cristalização; Modelos Químicos; Modelos Estatísticos; Conformação Molecular; Fótons; Espectrofotometria; Espectrofotometria Infravermelho; Espectrofotometria Ultravioleta; Espectroscopia de Infravermelho com Transformada de Fourier/métodos; Especificidade por Substrato; Temperatura; Raios X

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Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Polímeros / Tiofenos Tipo de estudo: Prognostic_studies / Risk_factors_studies Idioma: En Ano de publicação: 2007 Tipo de documento: Article

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