Traceable nano geometric structure measurement and international comparison.

Gao, Sitian; Du, Hua; Lu, Minzhen; Cui, Jianjun; Shi, Yushu.

Afiliação

Gao S; State Key Laboratory of Precision Measuring Technology and Instruments, Tianjing University, Tianjing 300072, China.

J Nanosci Nanotechnol ; 9(2): 692-7, 2009 Feb.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19441373

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Base de dados: MEDLINE Idioma: En Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

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