Semiconductor laser-based measurements of quench rates in an atmospheric pressure plasma by using saturated-fluorescence spectroscopy.
Appl Opt
; 32(6): 948-55, 1993 Feb 20.
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em En
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| ID: mdl-20802772
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Tipo de estudo:
Prognostic_studies
Idioma:
En
Ano de publicação:
1993
Tipo de documento:
Article