Spring constant calibration techniques for next-generation fast-scanning atomic force microscope cantilevers. | Nanotechnology;25(33): 335705, 2014 Aug 22. | MEDLINE

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Spring constant calibration techniques for next-generation fast-scanning atomic force microscope cantilevers.

Slattery, Ashley D; Blanch, Adam J; Ejov, Vladimir; Quinton, Jamie S; Gibson, Christopher T.

Afiliação

Slattery AD; Flinders Centre for NanoScale Science and Technology, School of Chemical and Physical Sciences, Flinders University, Bedford Park, South Australia 5042, Australia.

Nanotechnology ; 25(33): 335705, 2014 Aug 22.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25074581

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

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