Analysis of grain boundary dynamics using event detection and cumulative averaging.

Gautam, A; Ophus, C; Lançon, F; Denes, P; Dahmen, U

Gautam, A; Ophus, C; Lançon, F; Denes, P; Dahmen, U.

Afiliação

Gautam A; National Center for Electron Microscopy, LBNL, Berkeley, CA 94720, USA.
Ophus C; National Center for Electron Microscopy, LBNL, Berkeley, CA 94720, USA.
Lançon F; Laboratoire de Simulation Atomistique (L_Sim), SP2M, INAC, CEA, 38054 Grenoble, France.
Denes P; National Center for Electron Microscopy, LBNL, Berkeley, CA 94720, USA.
Dahmen U; National Center for Electron Microscopy, LBNL, Berkeley, CA 94720, USA. Electronic address: udahmen@lbl.gov.

Ultramicroscopy ; 151: 78-84, 2015 Apr.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25498139

Palavras-chave

Aberration correction; Atomic structure; Dynamics; Electron detector; Grain boundary; HAADF; HRTEM; Simulation; Step; Time average

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Texto completo: 1 Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Ano de publicação: 2015 Tipo de documento: Article

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