E1 and E2/E0 form factors and strength distributions from 28Si (e,e'p) and 28Si (e,e' alpha ) coincidence scattering.

Kihm T; Knöpfle KT; Riedesel H; Voruganti P; Emrich HJ; Fricke G; Neuhausen R; Schneider RK.

Phys Rev Lett ; 56(26): 2789-2792, 1986 Jun 30.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-10033095

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 1986 Tipo del documento: Article

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