Precise measuring method for detecting the in situ distortion profile of a high-heat-load mirror for synchrotron radiation by use of a pentaprism long trace profiler. | Appl Opt;36(16): 3769-75, 1997 Jun 01. | MEDLINE

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Precise measuring method for detecting the in situ distortion profile of a high-heat-load mirror for synchrotron radiation by use of a pentaprism long trace profiler.

Qian, S; Jark, W; Sostero, G; Gambitta, A; Mazzolini, F; Savoia, A.

Appl Opt ; 36(16): 3769-75, 1997 Jun 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18253404

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Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 1997 Tipo del documento: Article

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