Broadening the applications of the atom probe technique by ultraviolet femtosecond laser.

Hono, K; Ohkubo, T; Chen, Y M; Kodzuka, M; Oh-ishi, K; Sepehri-Amin, H; Li, F; Kinno, T; Tomiya, S; Kanitani, Y.

Afiliación

Hono K; National Institute for Materials Science, Tsukuba 305-0047, Japan. kazuhiro.hono@nims.go.jp

Ultramicroscopy ; 111(6): 576-83, 2011 May.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-21177036

Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2011 Tipo del documento: Article

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