Spectral phonon scattering from sub-10 nm surface roughness wavelengths in metal-assisted chemically etched Si nanowires.

Ghossoub, M G; Valavala, K V; Seong, M; Azeredo, B; Hsu, K; Sadhu, J S; Singh, P K; Sinha, S

Ghossoub, M G; Valavala, K V; Seong, M; Azeredo, B; Hsu, K; Sadhu, J S; Singh, P K; Sinha, S.

Afiliación

Ghossoub MG; Department of Mechanical Science & Engineering, University of Illinois, Urbana, Illinois 61801, United States.

Nano Lett ; 13(4): 1564-71, 2013 Apr 10.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23464810

Asunto(s)

Nanocables/química; Fonones; Silicio/química; Metales/química; Tamaño de la Partícula; Propiedades de Superficie; Conductividad Térmica

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Silicio / Nanocables / Fonones Idioma: En Año: 2013 Tipo del documento: Article

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