Estimation of mass thickness response of embedded aggregated silica nanospheres from high angle annular dark-field scanning transmission electron micrographs. | J Microsc;253(2): 166-70, 2014 Feb. | MEDLINE

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Estimation of mass thickness response of embedded aggregated silica nanospheres from high angle annular dark-field scanning transmission electron micrographs.

Nordin, M; Abrahamsson, C; Blomqvist, C H; Häbel, H; Röding, M; Olsson, E; Nydén, M; Rudemo, M.

Afiliación

Nordin M; Applied Surface Chemistry, Department of Chemical and Biological Engineering, Chalmers University of Technology, Gothenburg, Sweden.

J Microsc ; 253(2): 166-70, 2014 Feb.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24382203

Palabras clave

Likelihood; mass thickness; scanning transmission electron microscopy; structural characterization

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Año: 2014 Tipo del documento: Article

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