Three-Dimensional Integrated X-ray Diffraction Imaging of a Native Strain in Multi-Layered WSe<sub>2</sub>. | Nano Lett;18(3): 1993-2000, 2018 03 14. | MEDLINE

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Three-Dimensional Integrated X-ray Diffraction Imaging of a Native Strain in Multi-Layered WSe₂.

Cherukara, Mathew J; Schulmann, Daniel S; Sasikumar, Kiran; Arnold, Andrew J; Chan, Henry; Sadasivam, Sridhar; Cha, Wonsuk; Maser, Jorg; Das, Saptarshi; Sankaranarayanan, Subramanian K R S; Harder, Ross J.

Nano Lett ; 18(3): 1993-2000, 2018 03 14.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29451799

Palabras clave

3-D strain mapping; Coherent X-ray imaging; WSe2; chalcogenide layered semiconductors; multiscale modeling

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Año: 2018 Tipo del documento: Article

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