Wide-range length metrology by dual-imaging-unit atomic force microscope based on porous alumina. | Microsc Res Tech;64(3): 223-7, 2004 Jun 15. | MEDLINE

Contenido principal 1 Búsqueda 2 Pie de página 3

+A A -A Alto contraste

BVS MTCI Américas

Medicinas Tradicionales Complementarias e Integrativas

Localizar descriptor de asunto Búsqueda Avanzada

Wide-range length metrology by dual-imaging-unit atomic force microscope based on porous alumina.

Zhang, Dongxian; Zhang, Haijun; Lin, Xiaofeng.

Afiliación

Zhang D; State Key Laboratory of Modern Optical Instruments, Zhejiang University, Hangzhou 310027, People's Republic of China. zhangdx@zju.edu.cn

Microsc Res Tech ; 64(3): 223-7, 2004 Jun 15.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-15452889

Asunto(s)

Óxido de Aluminio/química; Microscopía de Fuerza Atómica/instrumentación; Nanotecnología

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica / Nanotecnología / Óxido de Aluminio Idioma: En Revista: Microsc Res Tech Año: 2004 Tipo del documento: Article

Buscar en Google

Añadir a Mi BVS

Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía de Fuerza Atómica / Nanotecnología / Óxido de Aluminio Idioma: En Revista: Microsc Res Tech Año: 2004 Tipo del documento: Article