Cryo DualBeam Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy to Evaluate the Interface Between Cells and Nanopatterned Scaffolds.

Lamers, Edwin; Walboomers, X Frank; Domanski, Maciej; McKerr, George; O'Hagan, Barry M; Barnes, Clifford A; Peto, Lloyd; Luttge, Regina; Winnubst, Louis A J A; Gardeniers, Han J G E; Jansen, John A

Lamers, Edwin; Walboomers, X Frank; Domanski, Maciej; McKerr, George; O'Hagan, Barry M; Barnes, Clifford A; Peto, Lloyd; Luttge, Regina; Winnubst, Louis A J A; Gardeniers, Han J G E; Jansen, John A.

Afiliación

Lamers E; 1 Department of Biomaterials, Radboud University Nijmegen Medical Centre , Nijmegen, The Netherlands .

Tissue Eng Part C Methods ; 17(1): 1-7, 2011 Jan.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20594113

Asunto(s)

Microscopía por Crioelectrón/métodos; Microscopía Electrónica de Rastreo/métodos; Microscopía Electrónica de Transmisión; Nanotecnología/métodos; Animales; Artefactos; Materiales Biocompatibles/química; Imagenología Tridimensional; Masculino; Osteoblastos/metabolismo; Poliestirenos/química; Ratas; Ratas Wistar; Silicio/química; Ingeniería de Tejidos/métodos; Andamios del Tejido/química

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Texto completo: 1 Bases de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía Electrónica de Rastreo / Microscopía por Crioelectrón / Nanotecnología / Microscopía Electrónica de Transmisión Idioma: En Revista: Tissue Eng Part C Methods Año: 2011 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos

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