Modeling of the sputtering process of cubic silver halide microcrystals and its relevance in depth profiling by secondary-ion mass spectrometry (SIMS). | Fresenius J Anal Chem;370(5): 654-62, 2001 Jul. | MEDLINE

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Modeling of the sputtering process of cubic silver halide microcrystals and its relevance in depth profiling by secondary-ion mass spectrometry (SIMS).

Lenaerts, J; Verlinden, G; Ignatova, V A; Van Vaeck, L; Gijbels, R; Geuens, I.

Afiliación

Lenaerts J; Department of Chemistry (MiTAC), University of Antwerp, Wilrijk, Belgium. lenaerts@uia.ua.ac.be. lenaerts@uia.ua.ac.be

Fresenius J Anal Chem ; 370(5): 654-62, 2001 Jul.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-11497001

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Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Fresenius J Anal Chem Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2001 Tipo del documento: Article

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