Flight qualification of a diode laser for path difference determination of a high-resolution fourier transform spectrometer.

Bianchini, G; Lanfranchi, M; Cortesi, U.

Afiliación

Bianchini G; Istituto di Ricerca sulle Onde Elettromagnetiche, Consiglio Nazionale delle Ricerche, Via Panciatichi 64, Firenze 50127, Italy. gb@iroe.fi.cnr.it

Appl Opt ; 39(6): 962-5, 2000 Feb 20.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18337972

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Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Año: 2000 Tipo del documento: Article

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