The impact of joint responses of devices in an airport security system. | Risk Anal;29(2): 298-311, 2009 Feb. | MEDLINE

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The impact of joint responses of devices in an airport security system.

Nie, Xiaofeng; Batta, Rajan; Drury, Colin G; Lin, Li.

Afiliación

Nie X; Department of Industrial and Systems Engineering, and Research Institute for Safety and Security in Transportation, University at Buffalo (SUNY), Buffalo, NY 14260, USA.

Risk Anal ; 29(2): 298-311, 2009 Feb.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19000079

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Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Risk Anal Año: 2009 Tipo del documento: Article

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