An atom trap trace analysis system for measuring krypton contamination in xenon dark matter detectors.

Aprile, E; Yoon, T; Loose, A; Goetzke, L W; Zelevinsky, T.

Afiliación

Aprile E; Department of Physics, Columbia University, New York, New York 10027-5255, USA.

Rev Sci Instrum ; 84(9): 093105, 2013 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-24089814

Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2013 Tipo del documento: Article

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