Performance and Reliability of Electrowetting-on-Dielectric (EWOD) Systems Based on Tantalum Oxide. | ACS Appl Mater Interfaces;9(48): 42278-42286, 2017 Dec 06. | MEDLINE

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Performance and Reliability of Electrowetting-on-Dielectric (EWOD) Systems Based on Tantalum Oxide.

Mibus, Marcel; Zangari, Giovanni.

Afiliación

Mibus M; Department of Materials Science and Engineering, University of Virginia , 395 McCormick Road, Charlottesville, Virginia 22904, United States.
Zangari G; Department of Materials Science and Engineering, University of Virginia , 395 McCormick Road, Charlottesville, Virginia 22904, United States.

ACS Appl Mater Interfaces ; 9(48): 42278-42286, 2017 Dec 06.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-29112362

Palabras clave

electrowetting; failure; tantalum oxide; trapped charge

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Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Appl Mater Interfaces Asunto de la revista: BIOTECNOLOGIA / ENGENHARIA BIOMEDICA Año: 2017 Tipo del documento: Article

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