Analysis of Bi Distribution in Epitaxial GaAsBi by Aberration-Corrected HAADF-STEM.

Baladés, N; Sales, D L; Herrera, M; Tan, C H; Liu, Y; Richards, R D; Molina, S I.

Afiliación

Baladés N; Department of Material Science, Metallurgical Engineering and Inorganic Chemistry, University of Cádiz, Campus Río San Pedro, 11510, Puerto Real, Cádiz, Spain. nuria.balades@uca.es.
Sales DL; Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT). Facultad de Ciencias. Universidad de Cádiz, Campus Río San Pedro s/n. 11510 Puerto Real, Cádiz, Spain. nuria.balades@uca.es.
Herrera M; Department of Material Science, Metallurgical Engineering and Inorganic Chemistry, University of Cádiz, Campus Río San Pedro, 11510, Puerto Real, Cádiz, Spain.
Tan CH; Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT). Facultad de Ciencias. Universidad de Cádiz, Campus Río San Pedro s/n. 11510 Puerto Real, Cádiz, Spain.
Liu Y; Department of Material Science, Metallurgical Engineering and Inorganic Chemistry, University of Cádiz, Campus Río San Pedro, 11510, Puerto Real, Cádiz, Spain.
Richards RD; Instituto Universitario de Investigación en Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT). Facultad de Ciencias. Universidad de Cádiz, Campus Río San Pedro s/n. 11510 Puerto Real, Cádiz, Spain.
Molina SI; Department of Electronic and Electrical Engineering, University of Sheffield, S3 7HQ, Sheffield, UK.

Nanoscale Res Lett ; 13(1): 125, 2018 Apr 25.

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