Electronic, Structural, and Mechanical Properties of SiO_{2} Glass at High Pressure Inferred from its Refractive Index.

Lobanov, Sergey S; Speziale, Sergio; Winkler, Björn; Milman, Victor; Refson, Keith; Schifferle, Lukas.

Afiliación

Lobanov SS; Deutsches GeoForschungsZentrum GFZ, Telegrafenberg, 14473 Potsdam, Germany.
Speziale S; Institut für Geowissenschaften, Universität Potsdam, Karl-Liebknecht-Str. 24-25, Golm 14476, Germany.
Winkler B; Deutsches GeoForschungsZentrum GFZ, Telegrafenberg, 14473 Potsdam, Germany.
Milman V; Institut für Geowissenschaften, Goethe-Universität Frankfurt, Altenhöferallee 1, 60438 Frankfurt am Main, Germany.
Refson K; Dassault Systèmes BIOVIA, 334 Science Park, Cambridge CB4 0WN, United Kingdom.
Schifferle L; ISIS Facility, Rutherford Appleton Laboratory, Chilton, Didcot, Oxfordshire OX11 0QX, United Kingdom.

Phys Rev Lett ; 128(7): 077403, 2022 Feb 18.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-35244414

Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2022 Tipo del documento: Article

Texto completo: 1 Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev Lett Año: 2022 Tipo del documento: Article