Soft X-ray microscopy at a spatial resolution better than 15 nm.

Chao, Weilun; Harteneck, Bruce D; Liddle, J Alexander; Anderson, Erik H; Attwood, David T

Chao, Weilun; Harteneck, Bruce D; Liddle, J Alexander; Anderson, Erik H; Attwood, David T.

Afiliación

Chao W; Center for X-ray Optics, Lawrence Berkeley National Laboratory, 1 Cyclotron Road, MS 2-400, Berkeley, California 94720, USA.

Nature ; 435(7046): 1210-3, 2005 Jun 30.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-15988520

Asunto(s)

Microscopía/instrumentación; Microscopía/métodos; Rayos X; Disciplinas de las Ciencias Biológicas/instrumentación; Disciplinas de las Ciencias Biológicas/métodos; Magnetismo; Procedimientos Analíticos en Microchip; Microscopía Electrónica de Rastreo; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Fotones; Sensibilidad y Especificidad; Silicio; Agua/química

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Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Rayos X / Microscopía Tipo de estudio: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Nature Año: 2005 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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