Cutoff probe using Fourier analysis for electron density measurement. | Rev Sci Instrum;83(1): 013510, 2012 Jan. | MEDLINE

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Cutoff probe using Fourier analysis for electron density measurement.

Na, Byung-Keun; You, Kwang-Ho; Kim, Dae-Woong; Chang, Hong-Young; You, Shin-Jae; Kim, Jung-Hyung.

Afiliación

Na BK; Department of Physics, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon, South Korea.

Rev Sci Instrum ; 83(1): 013510, 2012 Jan.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-22299954

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Corea del Sur

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