Mechanism of single-shot damage of Ru thin films irradiated by femtosecond extreme UV free-electron laser.

Milov, Igor; Makhotkin, Igor A; Sobierajski, Ryszard; Medvedev, Nikita; Lipp, Vladimir; Chalupský, Jaromir; Sturm, Jacobus M; Tiedtke, Kai; de Vries, Gosse; Störmer, Michael; Siewert, Frank; van de Kruijs, Robbert; Louis, Eric; Jacyna, Iwanna; Jurek, Marek; Juha, Libor; Hájková, Vera; Vozda, Vojtech; Burian, Tomás; Saksl, Karel; Faatz, Bart; Keitel, Barbara; Plönjes, Elke; Schreiber, Siegfried; Toleikis, Sven; Loch, Rolf; Hermann, Martin; Strobel, Sebastian; Nienhuys, Han-Kwang; Gwalt, Grzegorz; Mey, Tobias; Enkisch, Hartmut; Bijkerk, Fred

Milov, Igor; Makhotkin, Igor A; Sobierajski, Ryszard; Medvedev, Nikita; Lipp, Vladimir; Chalupský, Jaromir; Sturm, Jacobus M; Tiedtke, Kai; de Vries, Gosse; Störmer, Michael; Siewert, Frank; van de Kruijs, Robbert; Louis, Eric; Jacyna, Iwanna; Jurek, Marek; Juha, Libor; Hájková, Vera; Vozda, Vojtech; Burian, Tomás; Saksl, Karel; Faatz, Bart; Keitel, Barbara; Plönjes, Elke; Schreiber, Siegfried; Toleikis, Sven; Loch, Rolf; Hermann, Martin; Strobel, Sebastian; Nienhuys, Han-Kwang; Gwalt, Grzegorz; Mey, Tobias; Enkisch, Hartmut; Bijkerk, Fred.

Opt Express ; 26(15): 19665-19685, 2018 Jul 23.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-30114137

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