Strain analysis from M-edge resonant inelastic X-ray scattering of nickel oxide films.

Miedema, P S; Thielemann-Kühn, N; Calafell, I Alonso; Schüßler-Langeheine, C; Beye, M

Miedema, P S; Thielemann-Kühn, N; Calafell, I Alonso; Schüßler-Langeheine, C; Beye, M.

Afiliación

Miedema PS; Deutsches Elektronen Synchrotron DESY, Notkestraße 85, 22607 Hamburg, Germany. p.s.miedema@gmail.com.
Thielemann-Kühn N; Institute Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research (FG-ISRR), Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Albert-Einstein-Straße 15, 12489 Berlin, Germany and Institut für Physik und Astronomie, Universität Potsdam, Karl-Liebknecht-Straße 24/25, 14476 Potsdam, Ge
Calafell IA; Institute Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research (FG-ISRR), Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Albert-Einstein-Straße 15, 12489 Berlin, Germany.
Schüßler-Langeheine C; Institute Methods and Instrumentation for Synchrotron Radiation Research (FG-ISRR), Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie GmbH, Albert-Einstein-Straße 15, 12489 Berlin, Germany.
Beye M; Deutsches Elektronen Synchrotron DESY, Notkestraße 85, 22607 Hamburg, Germany. p.s.miedema@gmail.com.

Phys Chem Chem Phys ; 21(38): 21596-21602, 2019 Oct 14.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-31538993

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Chem Chem Phys Asunto de la revista: BIOFISICA / QUIMICA Año: 2019 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania

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