Test Bench for Highly Segmented GRIT Double-Sided Silicon Strip Detectors: A Detector Quality Control Protocol.

Dueñas, J A; Cobo, A; López, L; Galtarossa, F; Goasduff, A; Mengoni, D; Sánchez-Benítez, A M

Dueñas, J A; Cobo, A; López, L; Galtarossa, F; Goasduff, A; Mengoni, D; Sánchez-Benítez, A M.

Afiliación

Dueñas JA; Departamento de Ingeniería Eléctrica y Centro de Estudios Avanzados en Física, Matemáticas y Computación, Universidad de Huelva, 21007 Huelva, Spain.
Cobo A; Dipartimento di Fisica Astronomia dell' Università di Padova, 35131 Padova, Italy.
López L; Dipartimento di Elettronica Informazione e Bioingegneria dell' Politecnico di Milano, 20133 Milano, Italy.
Galtarossa F; INFN, Sezione di Padova, 35131 Padova, Italy.
Goasduff A; INFN Laboratori Nazionali di Legnaro, 35131 Padova, Italy.
Mengoni D; Dipartimento di Fisica Astronomia dell' Università di Padova, 35131 Padova, Italy.
Sánchez-Benítez AM; INFN, Sezione di Padova, 35131 Padova, Italy.

Sensors (Basel) ; 23(12)2023 Jun 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37420550

Asunto(s)

Silicio; Control de Calidad

Palabras clave

GRIT collaboration; double-sided silicon strip detector; silicon detector tech bench

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Texto completo: 1 Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Silicio Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: España

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