Tip-enhanced near-field Raman spectroscopy with a scanning tunneling microscope and side-illumination optics.

Yi, K J; He, X N; Zhou, Y S; Xiong, W; Lu, Y F

Yi, K J; He, X N; Zhou, Y S; Xiong, W; Lu, Y F.

Afiliación

Yi KJ; Department of Electrical Engineering, University of Nebraska-Lincoln, Lincoln, Nebraska 68588-0511, USA.

Rev Sci Instrum ; 79(7): 073706, 2008 Jul.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-18681707

Asunto(s)

Microscopía de Túnel de Rastreo/instrumentación; Espectrometría Raman/instrumentación; Campos Electromagnéticos; Diseño de Equipo; Oro/química; Rayos Láser; Luz; Metales; Microscopía Electrónica de Rastreo; Microscopía de Túnel de Rastreo/métodos; Nanopartículas/química; Nanotecnología/instrumentación; Nanotecnología/métodos; Óptica y Fotónica; Silicio/química; Plata/química; Espectrometría Raman/métodos; Tungsteno/química

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Espectrometría Raman / Microscopía de Túnel de Rastreo Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Año: 2008 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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