Thermal conductivity measurements of single-crystalline bismuth nanowires by the four-point-probe 3-ω technique at low temperatures. | Nanotechnology;24(18): 185401, 2013 May 10. | MEDLINE

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Thermal conductivity measurements of single-crystalline bismuth nanowires by the four-point-probe 3-ω technique at low temperatures.

Lee, Seung-Yong; Kim, Gil-Sung; Lee, Mi-Ri; Lim, Hyuneui; Kim, Wan-Doo; Lee, Sang-Kwon.

Afiliación

Lee SY; Department of Semiconductor Science and Technology, Semiconductor Physics Research Center (SPRC), Chonbuk National University, Jeonju 561-756, Korea.

Nanotechnology ; 24(18): 185401, 2013 May 10.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23575254

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2013 Tipo del documento: Article

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