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Investigation of III-V nanowires by plan-view transmission electron microscopy: InN case study.
Luna, Esperanza; Grandal, Javier; Gallardo, Eva; Calleja, José M; Sánchez-García, Miguel Á; Calleja, Enrique; Trampert, Achim.
Afiliación
  • Luna E; 1Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik,Hausvogteiplatz 5-7,D-10117 Berlin,Germany.
  • Grandal J; 1Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik,Hausvogteiplatz 5-7,D-10117 Berlin,Germany.
  • Gallardo E; 1Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik,Hausvogteiplatz 5-7,D-10117 Berlin,Germany.
  • Calleja JM; 2Departamento de Física de Materiales,Universidad Autónoma de Madrid,E-28049 Madrid,Spain.
  • Sánchez-García MÁ; 3ISOM and Departamento Ingeniería Electrónica,ETSI Telecomunicación,Universidad Politécnica de Madrid,E-28040 Madrid,Spain.
  • Calleja E; 3ISOM and Departamento Ingeniería Electrónica,ETSI Telecomunicación,Universidad Politécnica de Madrid,E-28040 Madrid,Spain.
  • Trampert A; 1Paul-Drude-Institut für Festkörperelektronik,Hausvogteiplatz 5-7,D-10117 Berlin,Germany.
Microsc Microanal ; 20(5): 1471-8, 2014 Oct.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25156830
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Asunto principal: Microscopía Electrónica de Transmisión / Nanocables / Indio Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2014 Tipo del documento: Article País de afiliación: Alemania
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