Thin film depth profiling by ion beam analysis. | Analyst;141(21): 5944-5985, 2016 Oct 17. | MEDLINE

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Thin film depth profiling by ion beam analysis.

Jeynes, Chris; Colaux, Julien L.

Afiliación

Jeynes C; University of Surrey Ion Beam Centre, Guildford, GU2 7XJ, England, UK.
Colaux JL; University of Surrey Ion Beam Centre, Guildford, GU2 7XJ, England, UK.

Analyst ; 141(21): 5944-5985, 2016 Oct 17.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-27747322

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Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Analyst Año: 2016 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido

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