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Who Can You Count On? Understanding The Determinants of Reliability.
Tourangeau, Roger; Yan, Ting; Sun, Hanyu.
Afiliación
  • Tourangeau R; Westat, MD, USA.
  • Yan T; Westat, MD, USA.
  • Sun H; Westat, MD, USA.
J Surv Stat Methodol ; 8(5): 903-931, 2020 Nov.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33381609
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Surv Stat Methodol Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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