Correction to Raman Characterization of the Charge Density Wave Phase of 1T-TiSe<sub>2</sub>: From Bulk to Atomically Thin Layers. | ACS Nano;11(2): 2304, 2017 02 28. | MEDLINE

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Correction to Raman Characterization of the Charge Density Wave Phase of 1T-TiSe₂: From Bulk to Atomically Thin Layers.

Duong, Dinh Loc; Ryu, Gihun; Hoyer, Alexander; Lin, Chengtian; Burghard, Marko; Kern, Klaus.

ACS Nano ; 11(2): 2304, 2017 02 28.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-28195460

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Banco de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2017 Tipo del documento: Article

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